Zoekfilters

Verschijningsjaar
2021 (10)
2020 (4)
2016 (3)
» Toon alle opties (4)
Uitgever
Boom (5)
Noordhoff (5)
Pearson (5)
» Toon alle opties (4)

Studieboeken (33)

54,95
Levertijd: 5 werkdagen
+
Bestel

Applied Statistics and Probability for Engineers / 7th edition

2019 || Paperback || Douglas C. Montgomery e.a. || Wiley

Applied Statistics and Probability for Engineers provides a practical approach to probability and statistical methods. Students learn how the material will be relevant in their careers by including a rich collection of examples and problem sets that reflect realistic applications and situations. This product focuses on real engineering applications and real engineering solutions while including material on the bootstrap, increased emphasis on the use of p-value, coverage of equivalence testin...

72,50
Levertijd: 5 werkdagen
met 5% korting 68,88
+
Bestel

Toegepaste Wiskunde voor het hoger onderwijs - Deel 1 / Druk 6

2016 || Paperback || J.H. Blankespoor e.a. || ThiemeMeulenhoff bv || met inkijkexemplaar

Toegepaste wiskunde deel 1 (6e druk, 2016) behandelt de wiskundeleerstof voor de propedeusefase. Het boek is geschikt voor alle opleidingen in het hoger technisch onderwijs.

In deel 1 krijgt de student veel oefeningen aangereikt. Met voorbeelden wordt de student door de stof geleid. Er is veel gedaan om het inzicht en de routine in wiskundige concepten te vergroten, maar ook wiskundige contexten krijgen voldoende aandacht. Uitvoerige, formele bewijzen komen nauwelijks voor.

Elk hoofdstuk bevat...

28,95
Levertijd: 5 werkdagen
+
Bestel

Measurements and their Uncertainties

A practical guide to modern error analysis

2021 || Paperback || Thomas Ifan || Oxford University Press

This short guide to modern error analysis is primarily intended to be used in undergraduate laboratories in the physical sciences. No prior knowledge of statistics is assumed. The necessary concepts are introduced where needed and illustrated graphically. The book emphasises the use of computers for error calculations and data fitting.